Vi har bytt namn till Adlibris Campus! Campusbokhandeln ❤️ Adlibris - Läs mer här
Thin Film Analysis by X-Ray Scattering | 1:a upplagan
- Inbunden, Engelska, 2006
- Författare: Mario Birkholz
- Betyg:
Ej i lager
Beskrivning
Produktinformation
Kategori:
Okänd
Bandtyp:
Inbunden
Språk:
Engelska
Förlag:
John Wiley And Sons Ltd
Upplaga:
1
Utgiven:
2006-01-31
ISBN:
9783527310524
Sidantal:
400